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背壓法檢漏廣泛用于對(duì)封離電子器件、半導(dǎo)體器件等密封件的無損檢漏。檢漏時(shí)將被檢件在充有高壓示漏氣體(氦氣或氦氣和其它氣體的混合氣)的容器內(nèi)存放一定時(shí)間,如果被檢件有漏孔,示漏氣體便通過漏孔進(jìn)入被檢件內(nèi)部。再...
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