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采用多弧離子鍍?cè)诟咚黉摶咨铣练eTiAlN薄膜。利用掃描電鏡(SEM)觀測(cè)薄膜的表面形貌;用EDS分析薄膜表面的成分;用表面輪廓儀測(cè)試薄膜的厚度并結(jié)合沉積時(shí)間計(jì)算出沉積速率;用維氏硬度儀測(cè)量薄膜的硬度;用XRD表征薄膜的微觀結(jié)構(gòu)。結(jié)果表明,隨著偏壓峰值的增大,表面大顆粒逐漸減少,致密性逐漸變好,薄膜硬度也隨之增加。沉積參數(shù)對(duì)薄膜成分有影響,偏壓峰值對(duì)...
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